专利名称: | 利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法 | 专利号: | ZL201510055882.6 | ||
专利类型: | 国内发明专利 | 发明人或设计人: | 汪小刚,王万顺,李秀文 | 专利权人: | 中国水利水电科学研究院,北京中水科工程总公司 |
我院排序: | 独立完成 | 申报单位: | 中水科 | 评选年限: | 2017 |
专利简介: |
光纤光栅位移传感器串组装示意图 本发明公开了一种利用光纤光栅位移传感器测量基岩轴向变形的装置及方法,该装置包括光纤光栅位移传感器串连装置,光缆及位移传感器保护装置,及岩体锚固法兰盘。所述位移传感器串连装置、保护装置和法兰盘互相连接;所述位移传感器串连装置,用以连接并准确固定位移传感器,可基于实际情况对该装置设定标距,同时对位移传感器进行预拉,还可根据监测需要将位移传感器串联成组;光缆及位移传感器保护装置用来保护位移传感器通信光缆、位移传感器及其连接装置,避免其在安装及灌浆过程中被破坏;岩体锚固法兰盘通过灌注水泥浆液使装置与被测岩体连接为一体,从而准确测量岩体的轴向微小变形。本发明的有益效果为:基于光纤光栅位移传感器解决了测量基岩轴向变形的问题,该装置和方法可以实现自动采集,相较于滑动测微计监测围岩轴向变形更方便快捷,且节省大量人力物力。通过将不同光纤光栅位移传感器顺次连接组装成串,可连续测得地下洞室围岩和基岩的轴向变形;根据安装孔位设计不同,还可测得不同方向的基岩轴向变形。 |